試驗(yan)箱(xiang)簡介及箱(xiang)體結構：
簡介
真(zhen)菌在土壤中及各種材料上生(sheng)長，產生(sheng)孢(bao)子而傳播(bo)。孢(bao)子脫離母體(ti)發(fa)芽(ya)而進一步生(sheng)長，又(you)因此孢(bao)子極小，容易隨流動(dong)的空氣(qi)傳播(bo)，一旦生(sheng)長環境條件適宜，即形成(cheng)為污染，對設備的性能產生(sheng)影(ying)響。
溫度和(he)(he)濕度是霉(mei)菌(jun)生(sheng)(sheng)長的基本條件，而水(shui)分是孢子發(fa)芽(ya)的必要條件，物體表面上存在有灰塵或其他親水(shui)性(xing)物質，可以(yi)從大(da)(da)氣中吸收足(zu)夠的水(shui)分和(he)(he)營養，以(yi)供孢子發(fa)芽(ya)生(sheng)(sheng)長。大(da)(da)量試驗證明，造(zao)成設備損(sun)壞的大(da)(da)多數霉(mei)菌(jun)，發(fa)芽(ya)zui適(shi)宜溫度在20℃—30℃之間，相(xiang)對濕度低于(yu)65%時，孢子就不會發(fa)芽(ya)生(sheng)(sheng)長；大(da)(da)于(yu)此值時，濕度越(yue)(yue)大(da)(da)，生(sheng)(sheng)長越(yue)(yue)快。
長霉(mei)對(dui)產品的影(ying)響主要有以下三個(ge)方面：
原(yuan)發(fa)性影響：霉菌即使(shi)對(dui)材(cai)(cai)(cai)料(liao)只(zhi)發(fa)生輕微的(de)(de)損(sun)害(hai)，絕緣材(cai)(cai)(cai)料(liao)表面(mian)由于濕(shi)潤的(de)(de)菌絲(si)層形(xing)成導電(dian)通(tong)路(lu)(lu)而(er)大幅度(du)降低絕緣電(dian)阻，嚴重地會引起電(dian)路(lu)(lu)頻率和阻抗特(te)性發(fa)生重大的(de)(de)變化。材(cai)(cai)(cai)料(liao)一旦受(shou)到霉菌侵(qin)蝕會導致機械強度(du)下降和其(qi)他物理(li)性能(neng)的(de)(de)變化。
繼(ji)發性影(ying)響：霉(mei)菌(jun)在材料上生(sheng)長(chang)(chang)，能夠產(chan)生(sheng)有(you)機酸和(he)其(qi)他電(dian)解(jie)質等代謝產(chan)物，而(er)對材料產(chan)生(sheng)繼(ji)發性影(ying)響。這種侵蝕(shi)會導(dao)致(zhi)材料電(dian)解(jie)和(he)老(lao)化。又(you)因菌(jun)絲(si)體具有(you)吸水作(zuo)用，形(xing)成了飽(bao)和(he)的海綿層，即(ji)使外(wai)界濕(shi)(shi)度很低，菌(jun)絲(si)體仍能在試驗體內維持高濕(shi)(shi)狀態，導(dao)致(zhi)元件受(shou)潮損壞(huai)。長(chang)(chang)霉(mei)即(ji)有(you)損新產(chan)品外(wai)觀，又(you)伴有(you)難聞的霉(mei)味。
關聯(lian)性(xing)影(ying)響：由于(yu)現代化設(she)備的(de)微型結構和(he)相互(hu)聯(lian)結，設(she)備的(de)一(yi)處長(chang)霉(mei)(mei)可(ke)能(neng)(neng)會對不(bu)允許長(chang)霉(mei)(mei)的(de)其他(ta)元(yuan)件和(he)微型件產(chan)生影(ying)響。因此，當考(kao)慮對單一(yi)分組件或元(yuan)件的(de)直接(jie)或間接(jie)影(ying)響時，必須對整(zheng)機性(xing)能(neng)(neng)可(ke)能(neng)(neng)產(chan)生的(de)影(ying)響給予評定(ding)。
長(chang)霉試(shi)驗(yan)(yan)通常限于檢(jian)驗(yan)(yan)是否用了(le)適(shi)當(dang)的元件和(he)材料。通過材料元件、零(ling)部件或(huo)小的組合件等試(shi)驗(yan)(yan)，很容(rong)易正確(que)地獲(huo)得所需要的許多重要數據；長(chang)霉試(shi)驗(yan)(yan)是對試(shi)驗(yan)(yan)新產品準備運(yun)行(xing)非常有(you)利(li)霉菌生長(chang)條件下所作的zui后檢(jian)測。通過試(shi)驗(yan)(yan)可以檢(jian)測出(chu)具有(you)良好設計(ji)性能的產品發生任何(he)故(gu)障的性質。
綜(zong)上所述，長霉(mei)(mei)(mei)（霉(mei)(mei)(mei)菌）試驗是鑒定樣(yang)品及其材料在(zai)有利(li)于霉(mei)(mei)(mei)菌生長的氣候條件下的長霉(mei)(mei)(mei)程度和(he)由(you)于長霉(mei)(mei)(mei)引(yin)起(qi)的表面變化和(he)性能(neng)影響。
交變(bian)霉(mei)(mei)菌試驗箱是讓試驗樣品在一個理想(xiang)的，適宜霉(mei)(mei)菌孢(bao)子快(kuai)速生長(chang)的氣候環境中，人為考核試驗樣品及其結構材(cai)料的抗(kang)霉(mei)(mei)性能(neng)，及長(chang)霉(mei)(mei)對試驗樣品電氣、機械性能(neng)影響(xiang)的試驗設備。
本(ben)公司技(ji)術(shu)部(bu)按照(zhao)《GB10588—89；長霉(mei)(mei)試驗(yan)(yan)(yan)(yan)箱的(de)(de)(de)(de)技(ji)術(shu)條件》及(ji)其它相關(guan)環試標(biao)(biao)準中(zhong)(zhong)的(de)(de)(de)(de)要(yao)求（例如：試驗(yan)(yan)(yan)(yan)方(fang)(fang)法中(zhong)(zhong)規(gui)定的(de)(de)(de)(de)有關(guan)試驗(yan)(yan)(yan)(yan)箱*的(de)(de)(de)(de)技(ji)術(shu)條件等(deng)），結(jie)合(he)自身的(de)(de)(de)(de)技(ji)術(shu)特(te)點、設計制造的(de)(de)(de)(de)夾(jia)套式(shi)“交變霉(mei)(mei)菌試驗(yan)(yan)(yan)(yan)箱”符(fu)合(he)上述(shu)標(biao)(biao)準的(de)(de)(de)(de)規(gui)定，達(da)到國標(biao)(biao)及(ji)國軍標(biao)(biao)的(de)(de)(de)(de)要(yao)求，能夠按照(zhao)《電(dian)工電(dian)子產品方(fang)(fang)法：GB2423.16—2008試驗(yan)(yan)(yan)(yan)J—長霉(mei)(mei)試驗(yan)(yan)(yan)(yan)方(fang)(fang)法》和《GJB150.10—2009，軍用(yong)設備(bei)霉(mei)(mei)菌試驗(yan)(yan)(yan)(yan)》、《GJB4.10-83艦(jian)船電(dian)子設備(bei)環境試驗(yan)(yan)(yan)(yan)霉(mei)(mei)菌試驗(yan)(yan)(yan)(yan)》進行長霉(mei)(mei)試驗(yan)(yan)(yan)(yan)。
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